概述：

在进行尺寸测量、缺陷检测中，成像质量的好坏直接影响对其检测的准确性，现有的微米级甚至亚微米级的检测需求，更是受成像精度的限制，因此一套能对其进行准确成像的专用打光方案必不可少。 

难点：

传统的打光多集中于使用背光源+高分辨率的工业相机进行打光采图，但因精密检测存在衍射现象，且所用光源的局限性，真实光路往往会出现发散情况现象，造成成像的边缘模糊；同时，光源、工件、镜头的安装误差，导致三者的光轴不在同一个线上，造成成像后的边缘易发生变形，对于精密边缘的检测造成严重的干扰。

  传统打光方案                               专用打光模块

创新：

本公司针对传统打光方式的弊端，研制出精密检测专用的打光模块，以高频波段光，结合专用复合校正光路，设计出了QZM系列光源，发射出的光线经过定制透镜后，将形成亚微米平行度射光，再配合专用定制的结构设计，使光源、工件、镜头的相互配合，目标轮廓能精确地被相机捕获并成像，将边缘像素宽度由传统的5~6个像素提升到1~2像素，对后续尺寸测量、缺陷检测的精度均有大幅提升。 

效果、对比：

传统打光方式，边缘成像较为模糊，边缘宽度达到5~6像素，对于后续的检测非常不利；

专用打光模块，成像较为清晰，宽度仅为1~2像素，较为准确地反映了真实孔的轮廓，为后面的尺寸、缺陷检测的准确性提供保证。 

可应用场景：

化纤行业喷丝孔的打光成像、微型孔洞等高精密尺寸测量及缺陷检测。